Igła testowa EQUIP-TEST SWT1600 FA05 N

Igła testowa EQUIP-TEST SWT1600 FA05 N

Igła testowa 3A, raster 4mm, główka FA

Igła testowa EQUIP-TEST SWT1600 FA05 N jest przeznaczona do systemów testowania elektroniki o rastrze minimalnym 4 mm. Komponent charakteryzuje się prądem znamionowym na poziomie 3 A oraz maksymalną rezystancją styku wynoszącą 20 mΩ. Element został wyposażony w główkę typu FA o średnicy 3 mm.

Styk wykonano z miedzi berylowej, a jego powierzchnię poddano procesowi złocenia w celu zapewnienia odpowiednich parametrów połączenia. Siła ugięcia sprężyny w tym modelu wynosi 1,5 N, przy czym ugięcie robocze ustalono na 4 mm, a maksymalne na 5 mm. Całkowita długość igły testowej wynosi 24,5 mm.

Igła testowa EQUIP-TEST SWT1600 FA05 N